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首页 - 公司产品 - 台阶仪 | 膜厚仪 | 薄膜测厚仪 - KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机 ET4000系列
ET4000系列 产品图片

KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机

型号:ET4000系列

是否进口:进口

产品概述:

● 高精度.安定性.机能性卓越适合于FPD基板·晶圆硬盘等的微细形状、段差、粗度测定的机型。


● 是多机能的全自动微细形状测定机,针对用途及样品尺寸有多种机型可供选择。


● ET4000A/ ET4000AK一可实现2D/3D表面形状测量。


● ET4000M一高性能的泛用微细形状测定机。


● ET4000L一对应大型工件的全自动微细形状测定机。


● ET4300一适合12"样品测量。


●各机型详细参数请与区域销售联系。


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相关介绍

台阶仪/膜厚仪ET4000系列产品参数


最大试片尺寸 210×210mm~300×400mm
重现性 1σ 0.5nm以内
测定范围 Z:100um X:100~305mm (Y移动量:150~400mm)
分解能 Z:0.1nm X:0.1um
测定力

0.5UN~500UN (0.05mg-50mg)


台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面

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