产品概述：
● 可解析表面粗度的各种参数、轮廓的所有形状。
测量原理：一次测量粗糙度和轮廓。
| Z分解能/测定范围 | 0.0075um/12mm 0.015um/24mm |
|---|---|
| Z检出方式 | 半导体雷射轴标 |
| 触针/测定力/针尖角度 |
R2um/0.75mN/60° R25um/10mN/25° |
| 解析项目 |
形状解析（要素、方位向量、统计量、MASTER比较、公差判定） 表面粗度(JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面波纹(JIS) |
| 最大测定范围 | X:100mm |
| 直线度精度 | 0.4um/100mm |
